- ATPG automatic test pattern generation
1. physical defects
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short and open
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drc escape
具有多样性等特点
不好测试，所以学术界提出了fault model 概念，具体作用有 test generation fault simulation
quality prediction fault diagnosis
除了测试还能具体分析芯片的covereage
fault model 定义：描述错误的行为
2. fault model 种类
stcuk at fault model 注意和工艺无关
第2种 为 dealy fault model
行为表征：比如100M 能工作，600M不能工作
delay fault model又分为两种 transition delay fault model
path delay fault model
transition delay faults ：slow to rise slow to fall
path delay fault ：其实可以把 transition delay 看成一种特殊 path delay
描述这个 fault 就是整个路径的延迟大于时钟周期
实际上这种 ｆａｕｌｔ ｍｏｄｅｌ 更接近实际的情况，但是却不用这种ｍｏｄｅｌ为什么呢，因为ｐａｔｈ 上路径太多，一个好的ｍｏｄｅｌ除了反应具体的ｄｅｆｅｃｔ特性，还要好求解，显然ｐａｔｈ ｄｅｌａｙ ｆａｕｌｔ ｍｏｄｅｌ 没有第２种特性
ＩＤＤＱ ｆａｕｌｔ ｍｏｅｌ 用的很少
就是在晶体管不工作的时候，漏电流过大，但是现在尺寸已经很小，漏电流本身就比较大，这个阈值不好设置。
因此现在大部分用的 ｆａｕｌｔ ｍｏｄｅｌ 都是ｓｔｕｃｋ ａｔ 和 ｔｒａｎｓｉｔｉｏｎ ｄｅｌａｙ fault model ，对这两种 model 进行求解 生成结构性测试向量
3. collapsing faults list
我们当然希望做到完备的测试 exhaustive testing ，但是实际上却不可能，太浪费时间
对于一个与门，有一个输入 stuck at 0 与输出 stuck at 0 等价，
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（1）fault free 正常输出 如果 vector detect 到 fault，那么将会与 fault free ciruit 电路不一样
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（2）能够被同一个vector detect 到fault 认为是等价的
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（3）对于等价的 fault 分为一类，一类产生一条结构性测试向量即可
假设fault free 的 circuit 用 h(x)表示
faulty circuit 用 hu(x)
可以很明显得出 ： 两个异或得到1
例子：a stuclk at 1 进行求解 ab=01
例子：fault collasping 之后的 测试向量明显减少
4. atpg tcl 和结果
5. atpg flow
产生结构性测试向量都是根据 ｆａｕｌｔ ｍｏｄｅｌ 来的
选择fault model ，基于D 算法进行求解
6.什么是D 算法
ATPG general rules
一些专业术语
例子: 第一个与门如果要把D forward 那么另一个port 一定要为1 或者d
第2个与门输出的1 如果要向 backward 那么输入必须都为1
7. fault simlution
两种 parallel fault simulation
parallet pattern single fault propagation
参考资料
原文链接：https://blog.csdn.net/gaiyi8666/article/details/80867362