蓝桥基础练习之芯片测试

一：题目
问题描述
　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入格式
　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
输出格式
　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3

二：分析
由于题目限制了要求，好的芯片一定比坏的芯片多，所以对每一个芯片的测试行进行判断，只要该行结果满足“好的芯片>坏的芯片”，就认为它是好的芯片。

三：代码

import java.util.Scanner;
public class Main {
	public static void main(String[] args){
		Scanner in = new Scanner(System.in);
		int n = in.nextInt();
		int test[][] =new int[n][n];
		boolean result[]=new boolean[n];
		for(int i=0;i<n;i++)
		{
			for(int j=0;j<n;j++)
			{
				test[i][j]=in.nextInt();
			}
		}
		for(int i=0;i<n;i++)  //判断芯片的好坏
		{
			result[i]=isGood(test[i],i,n);
		}
		for(int i=0;i<n;i++) 
		{
			if(result[i]==true)
				System.out.print((i+1)+" ");
		}
		
	}
	private static boolean isGood(int iTest[],int i,int n)
	{
		int countGood=0;
		for(int j=0;j<n;j++)
		{
			if(j==i)
				continue;
			if(iTest[j]==1)
				countGood++;
		}
		if(countGood+1>((float)n/2))
		{
			return true;
		}
		else
			return false;
	}
}