试题 基础练习 芯片测试
资源限制
时间限制:1.0s 内存限制:512.0MB
问题描述
有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3
分析:题目是一半以上都是真的,自然,检测出来一半以上也是真的。也就是说,该列的1大于n/2.
Python版
n = int(input())
l, ans = [], []
for _ in range(n):
l.append(list(map(int, input().split())))
for i in range(n):
ans.append(i + 1) if [x[i] for x in l].count(1) > n // 2 else ans
print(*ans)
C++版
#include <iostream>
using namespace std;
int main() {
int n;
cin >> n;
int a[20][20];
for(int i = 0; i < n; i++) {
for(int j = 0; j < n; j++) {
cin >> a[i][j];
}
}
for(int i = 0; i < n; i++) {
int cnt = 0;
for(int j = 0; j < n; j++) {
if(j != i)
cnt += a[j][i];
}
if(cnt >= n/2) {
cout << i+1 << " ";
}
}
return 0;
}