问题描述
有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3
解题思路：
判断一个芯片是否好坏的关键就是一句话：已知好芯片比坏芯片多------>（sum>n/2）
从两个角度判断：
1、如果一个芯片测试其他芯片的结果，好芯片比坏芯片多，那么这个芯片可能是好芯片。
2、如果一个芯片被超过一半的芯片测试结果是好，那么这个芯片可能是好芯片。
首先筛选掉肯定是坏芯片的芯片，然后记录每个芯片被测试成好芯片的次数 ，最后判断哪个芯片的好芯片。
AC代码：
#include<iostream>
#include<algorithm>
#include<cstring>
#include<map>
#include<string>
#include<cmath>
using namespace std;
const int N=22;
int main(){
int n;
cin>>n;
int a[N][N];
int good[N];
int k=0;
for(int i=0;i<n;i++)
{
int sum=0;
for(int j=0;j<n;j++)
{
cin>>a[i][j];
if(a[i][j])//测试结果是1
sum++;
}
if(sum>n/2)//如果这个芯片测试的好芯片比坏芯片多，这个芯片才可能是好芯片，记录下来
good[k++]=i;
}
//假设这些可能的好芯片里面全是好芯片
int ans[N]={0};//记录第i个芯片被测试成好芯片的次数
for(int i=0;i<k;i++)
for(int j=0;j<n;j++)
if(a[good[i]][j]==1)
ans[j]++;
for(int i=0;i<n;i++)//如果被测试成好芯片的次数大于一半，就肯定是好芯片
if(ans[i]>n/2)
cout<<i+1<<" ";
} 