一：可侧性设计简介（DFT）
1：什么是可测性？
相当于debug中给程序段加入断点。
设计工具自动将扫描插入到设计中，在设计通过仿真后，在设计阶段的后期，扫描被插入到设计中。扫描的目的是未来观察一个设计或者是整个芯片的内部变化。
2：JTAG
用一组特别的测试端口来控制扫描操作，这组端口被称为JTAG。
二：简单扫描举例
我们在实战一中加入扫描链
1：在Intro_Top中加入JTAG测试端口，加入5个1比特端口，先不连接它们，这5个端口分别是：ScanMode,ScanIn,ScanOut,ScanClr,ScanClk
2: 在Intro_Top(顶层设计)中的每一个I/O路径都插入D触发器，但JTAG的I/O除外
3：在testbench里给ScanClk和ScanClr添加驱动，即赋值
以上即可简单实现扫描链，也简单呈现了扫描链的大致情况，下面是拓展
4：加入多路选择器来去除所有的同步行为，一个ff寄存器上被加上了两个多路选择器
