易恩电气EN-1230A 晶体管动态参数测试仪在东莞某实验室上线运行
2020年12月中旬，我公司EN-1230A晶体管动态参数测试系统发往东莞某实验室交付完成。该测试设备电压电流1200V/300A，由西安易恩电气科技有限公司自主研制、生产的半导体分立器件动态参数测试的专用设备，通过更换不同的测试工装可以对不同封装的半导体器件进行非破坏性瞬态测试，通过软件切换可以对不同器件进行动态参数测试。可用于二极管、IGBT、MOSFET的测试。测试原理符合国军标，系统集成度高，性能稳定，具有升级扩展潜能和良好的人机交互。
该设备可对各类型Si 二极管、Si MOSFET、Si IGBT和SiC 二极管、SiC MOSFET、SiC IGBT等分立器件的各项动态参数如开通时间、关断时间、上升时间、下降时间、导通延迟时间、关断延迟时间、开通损耗、关断损耗、栅极总电荷、栅源充电电量、平台电压、反向恢复时间、反向恢复充电电量、反向恢复电流、反向恢复损耗、反向恢复电流变化率、反向恢复电压变化率、集电极短路电流、输入电容、输出电容、反向转移电容、栅极串联等效电阻、雪崩耐量进行测试。