■GTR和GTO是双极型电流驱动器件，由于具有电导调制效应，其通流能力很强，但开关速度较低，所需驱动功率大，驱动电路复杂。而电力MOSFET是单极型电压驱动器件，开关速度快，输入阻抗高，热稳定性好，所需驱动功率小而且驱动电路简单。绝缘栅双极晶体管（Insulated-gate Bipolar Transistor——IGBT或IGT）综合了GTR和MOSFET的优点，因而具有良好的特性。
IGBT的结构
IGBT 简化等效电路 电气图形符号
■IGBT的结构和工作原理
◆IGBT的结构
☞是三端器件，具有栅极G、集电极C和发射极E。
☞由N沟道VDMOSFET与双极型晶体管组合而成的IGBT，比VDMOSFET多一层P+注入区，实现对漂移区电导率进行调制，使得IGBT具有很强的通流能力。
☞简化等效电路表明，IGBT是用GTR与MOSFET组成的达林顿结构，相当于一个由MOSFET驱动的厚基区PNP晶体管。
◆IGBT的工作原理
☞IGBT的驱动原理与电力MOSFET基本相同，是一种场控器件。
☞其开通和关断是由栅极和发射极间的电压UGE决定的。
√当UGE为正且大于开启电压UGE(th)时，MOSFET内形成沟道，并为晶体管提供基极电流进而使IGBT导通。
√当栅极与发射极间施加反向电压或不加信号时，MOSFET内的沟道消失，晶体管的基极电流被切断，使得IGBT关断。
☞电导调制效应使得电阻RN减小，这样高耐压的IGBT也具有很小的通态压降。
IGBT的转移特性
■IGBT的基本特性
◆静态特性
☞转移特性
√描述的是集电极电流 IC与栅射电压UGE之间的关系。
√开启电压UGE(th)是IGBT能实现电导调制而导通的最低栅射电压，随温度升高而略有下降。
IGBT的输出特性
☞输出特性（伏安特性）
√描述的是以栅射电压为参考变量时，集电极电流IC与集射极间电压UCE之间的关系。
√分为三个区域：正向阻断区、有源区和饱和区。
√当UCE<0时，IGBT为反向阻断工作状态。
√在电力电子电路中，IGBT工作在开关状态，因而是在正向阻断区和饱和区之间来回转换。
IGBT的开关过程
◆动态特性
☞开通过程
√开通延迟时间td(on)
电流上升时间tr
电压下降时间tfv
开通时间ton= td(on)+tr+ tfv
√tfv分为tfv1和tfv2两段。
☞关断过程
√关断延迟时间td(off)
电压上升时间trv
电流下降时间tfi
关断时间toff = td(off) +trv+tfi
√tfi分为tfi1和tfi2两段
☞引入了少子储存现象，因而IGBT的开关速度要低于MOSFET。
■IGBT的主要参数
◆前面提到的各参数。
◆最大集射极间电压UCES
☞由器件内部的PNP晶体管所能承受的击穿电压所确定的。
◆最大集电极电流
☞包括额定直流电流IC和1ms脉宽最大电流ICP。
◆最大集电极功耗PCM
☞在正常工作温度下允许的最大耗散功率。
◆IGBT的特性和参数特点可以总结如下：
☞开关速度高，开关损耗小。
☞在相同电压和电流定额的情况下，IGBT的安全工作区比GTR大，而且具有耐脉冲电流冲击的能力。
☞通态压降比VDMOSFET低，特别是在电流较大的区域。
☞输入阻抗高，其输入特性与电力MOSFET类似。
☞与电力MOSFET和GTR相比，IGBT的耐压和通流能力还可以进一步提高，同时保持开关频率高的特点。
■IGBT的擎住效应和安全工作区
◆IGBT的擎住效应
☞在IGBT内部寄生着一个N-PN+晶体管和作为主开关器件的P+N-P晶体管组成的寄生晶闸管。其中NPN晶体管的基极与发射极之间存在体区短路电阻，P形体区的横向空穴电流会在该电阻上产生压降，相当于对J3结施加一个正向偏压，一旦J3开通，栅极就会失去对集电极电流的控制作用，电流失控，这种现象称为擎住效应或自锁效应。
☞引发擎住效应的原因，可能是集电极电流过大（静态擎住效应），dUCE/dt过大（动态擎住效应），或温度升高。
☞动态擎住效应比静态擎住效应所允许的集电极电流还要小，因此所允许的最大集电极电流实际上是根据动态擎住效应而确定的。
◆ IGBT的安全工作区
☞正向偏置安全工作区（Forward Biased Safe Operating Area——FBSOA）
√根据最大集电极电流、最大集射极间电压和最大集电极功耗确定。
☞反向偏置安全工作区（Reverse Biased Safe Operating Area——RBSOA）
√根据最大集电极电流、最大集射极间电压和最大允许电压上升率dUCE/dt。
