易恩“功率器件测试系统”乘风破浪，亮相PCIM Asia 2020！
2020年11月16日-11月18日，为期三天的PCIM Asia 2020在上海世博展览馆开展。本届PCIM Asia（上海国际电力元件、可再生能源管理展览会），现场演绎电力电子行业最前沿的趋势，展示尖端产品和其应用解决方案，吸引了大量专业买家到场参观采购。国际研讨会就“面向汽车应用的小型、高可靠性隔离DC/DC变换器与SiC驱动技术”为题的主题演讲及以“模块化多电平变换器—原理和应用”的专题讲座压轴登场，继续获得现场国际研讨会演讲嘉宾和听众的一致好评。
易恩电气携功率器件图示系统、IGBT高温反偏测试系统、高速大功率半导体动态参数测试系统惊艳亮相，观众络绎不绝走近展品与工作人员进行深入交流，共同探讨技术、探索合作机会。
功率器件图示系统是一款很具有代表性的新型半导体晶体管图示系统，系统可自动生成功率器件的I-V曲线，也可根据客户的实际需求设置功能测试，直接读取数显结果。系统在失效分析，IQC来料检验及高校实验室等部门有广泛的应用。
IGBT高温反偏测试系统具有每个工位单独控温（每个工位均可设置不同的温度）、每个工位独立监测漏电流等特点，设备适用于5000V以下的IGBT模块厂家的老化测试。
高速大功率半导体动态参数测试系统适用于SiC DIODE，SIC MOSFET，SIC IGBT全动态参数测试，同事可兼容硅基DIODE，MOSFET，IGBT全动态参数测试。系统稳定，测试精度高，得到了大家的一致好评。
易恩电气专注于功率器件测试系统及测试方案，追求卓越品质，易恩电气将肩负半导体器件测试行业向上的使命，以领先技术、高端产品及完备解决方案方案，为中国半导体测试行业发展提供易恩智慧，不断致力于推动高端功率器件的进步。