A
C
整数部分：4位
小数部分：误差小于最小精度的一般，就可以认为是无损的
如小数用8位表示，0.918*2^8取整，舍弃值0.008
0.008/2^8=0.0003125（量化误差）
精度1/2^8=0.00380625
D
B
D
16K是2的14次方，故14+8=22
D
B
C
A
（A XOR B）OR （C AND D） = AB’ + A’B + CD
= ((AB’)’(A’B)’(CD)’)’
= ((A(BB)’)’((AA)’B)’(CD)’)’
A
DFT的at-speed test会采用芯片PLL高速时钟进行寄存器的setup和hold测试
C
D
Pstat = Istat × Vdd
D
由于延时导致电平翻转不能同时进行
B
程序控制类指令包括：
• 跳转指令；
• 循环指令；
• 子程序指令；
• 中断指令。 这些指令可以控制程序的执行顺序。
D
C
两个16位相乘（A×B），等于同时有两个“两个8位相乘”，消耗一个cycle；
A的低八位乘B的低八位产生一个16位的数，类似的，一共产生4个16位的数，这四个16位的数交错相加;
最低八位不变，最高八位不变，次高位三个八位数相加，次低位三个八位数相加，又消耗两个cycle。
C
还差电流并联反馈
B 上拉电阻
D
FPGA IO接口时序约束有那些？
input delay
output delay
source clock latency
ACD
非易失性存储器（英语：non-volatile memory，缩写为NVM）是指当电流关掉后，所存储的数据不会消失的电脑存储器。非易失性存储器中，依存储器内的数据是否能在使用电脑时随时改写为标准，可分为二大类产品，即ROM和Flash memory。
BCD
基2 ：复数乘法（N/2）log2(N) 复数加法Nlog2(N)
BD
BCD
AB
代码覆盖率：语句、条件、路径、判定
？
ABCD
BC
面积优化：资源共享、逻辑复制、串行化
速度优化：流水线、关键路径法、寄存器配平
BCD
填空题：
Write-back
?
恢复时间检查和移除时间检查
recovery time：恢复时间。
撤销复位时，恢复到解复位状态的电平必须在时钟有效沿来临之前的一段时间到来，才能保证时钟能有效恢复到解复位状态，此段时间为recovery time。类似于同步时钟的setup time。
如下图，rst_n为1’b0表示复位，clk上升沿触发，rst_n从1’b0到1’b1的上升沿与时钟上升沿必须不小于recovery time才能保证寄存器恢复到正常状态。
removal time：移除时间。
复位时，在时钟有效沿来临之后复位信号还需要保持的时间为移除时间removal time。类似同步时钟hold time。 如下图，rst_n为1’b0表示复位有效，clk为上升沿触发，rst_n保持为1’b0经过clk上升沿后仍需保持一段时间，才能保证寄存器有效复位，放置亚稳态。
？
解：已知一个金属圈的原长电阻为1/4R，则 C的电阻为r=1/4 R．
由c图得：
设AB之间的电阻为R总，
根据题意得
简答题：
参考：https://blog.csdn.net/Reborn_Lee/article/details/101280171
（1）S1断开时，若D为1，Q端电压为VDDQ，因此VREF要小于VDDQ。若D为0，Q端电压为0，因此VREF要大于0，因此0<VREF<VDDQ。
（2）S1连通时，若D为1，Q端电压为VDDQ/3。若D为0，Q端电压为0，因此VREF要大于0，因此0<VREF<VDDQ/3。
（3）驱动端为0时，NMOS管道通，反相器输出接地，电阻没有电流，因此功耗较低
（2）：可以从定向测试，随机测试两种方式中产生激励，从代码覆盖率的角度保证代码覆盖率达100%。
