关于Keil调试STM32F407的 ADC过程异常：不进中断，EOC标志莫名清零等问题的讨论与解决
设置了F407中的3路ADC工作于独立模式，每次转换结束后产生中断。
由于程序比较庞大了，决定采用调试方式测试代码，结果发现程序经常无法正常进入中断，每次单步运行时，启动ADC后，EOC标识置位；再运行一步，其EOC标志位会自动清零，导致调试过程中断根本无法进入。其过程如图：
从图中可以看到，启动ADC1转换后，EOC1置位了。单步运行一步如图:
可以看出EOC1标志位自动清零了，由于单步运行，单步过程并没有进入中断EOC1就被清0 了，同样三个ADC都是这样的情况，这个问题困扰了我很久，查看了无数遍数据手册，也怀疑了中断的问题，看了M4内核手册，看了无数遍库代码，网络搜索了相关信息都没有发现问题及找到解决办法。甚至怀疑了硬件供电问题，把所有电源情况测量了一遍。并且如果断点不设置在此位置，设置在中断中，会出现死机的情况。
后来一个一个ADC调试发现好一点，但是还是有点问题，最后不知道怎么莫名其妙的好了一些。
其实在看数据手册过程中，其有一段话
当时看到这个解释的时候，我一直认为我的代码没有在任何中断外度去过ADC的转换结果，怎么就会清零了，后来莫名其妙的好了，也不知道自己点了啥地方，一直磨了我6七个小时，最后无奈带小孩睡觉。
直到第二天，又出现了这样的情况，很是担心这个问题，想往下继续写代码，但是又想到这个问题以后出现咋整，频率还高。无意中我退出调试后，硬件复位自由运行，结果程序没有一点问题，反复试了几次都一样，问题就在：调试出现，复位自动运行没有任何问题。
通过反复思考：可以肯定的是调试过程中EOC标志被清0了，为什么呢？那后面的程序我是调试还是不调试了？忽然想起图3中的话，我调试过程中，添加了peripherals查看了ADC1、ADC2、ADC3寄存器，也就是图1和图2中右下角，那不是就读取了ADCx->DR么？会不会导致EOC清零？于是我取消了ADC1外设查看，调试运行如图4所示：
发现ADC1的EOC标志位不会被清零了，而其他2个还是会被清零，可以肯定的是：在调试过程中，查看ADC寄出器的值读取了DR寄存器，肯定会导致ADC的EOC标志位清零。这里也明白了STM32为什么要给出C_ADC寄存器用来查看各个ADC运行状态了，原来一直觉得多余，看来还是有目的的。所以在ADC调试过程中，对于EOC标志位的查看一定要从C_ADC中的SR寄存器查看，不然会引起程序死机（如果你的程序具有在等待EOC的情况）。
