传统的渲染管线是：
应用阶段(CPU) ->几何阶段(顶点着色器) -> 光栅化阶段(片元着色器) -> 各种测试(深度测试，透明度测试，模板测试等) -> 颜色缓冲区(buffer)
一系列测试是在执行过顶点/片元着色器后才执行的，也就是说就算我们指定了一些测试条件来剔除掉一部分像素，但是这些像素还是经过了计算，这部分计算是没有必要的。Over Draw就是这样产生的。
early-z是放在片段着色器之前，所以大致的渲染管线可以描述成：
应用阶段(CPU)->几何阶段(顶点着色器)->early-z(提前深度测试)->光栅化阶段(片元着色器)->各种测试(深度测试，透明度测试，模板测试等)->颜色缓冲区(buffer)
提前进行深度测试可以节省不必要像素的片元计算，所以会有性能的提升
现代GPU中运用了Early-Z的技术，在Vertex阶段和Fragment阶段之间（光栅化之后，fragment之前）进行一次深度测试，如果深度测试失败，就不必进行fragment阶段的计算了，因此在性能上会有很大的提升。但是最终的ZTest仍然需要进行，以保证最终的遮挡关系结果正确。
early-z原理是光栅化后直接算深度，alphatest原理是片段着色器算完后算深度。
传统的3D硬件渲染管线中，Z test 所处的位置如下：
-------------------------------
multitex | PixelShader?
fog effects
alpha test
stencil\depth test *
alpha blending
dither
-------------------------------
可以看到，实际上在传统管线中，z test 不可能用来剔除 pixel shader 片断的执行。但是，在当前的一些显卡中，很多都把 z test 提前到了pixel shader 之前执行一次，被称
为 Early -Z Culling 优化。
但是从管线次序中可以清楚地看到，alpha test 成为了 z test 的限制，因为一旦打开了 alpha test, 对于在 alpha test 中失败的像素 Early-Z 将不能正确地被判断。因此对于部分显卡硬件，一旦关闭了 alpha test，Early-Z Culling就会被自动打开。
为了充分体现出 Early-Z Culling 的威力，一般来应该在 prezwriting 的 pass 阶段就应该先执行一次 alpha test，并且关闭对 color target 的填充，在 pixel shader 中只把 alpha值返回出去供 alpha test 使用。
但是问题随之出现： 对于一块未知的3D适配器，无法通过caps得知其是否支持 early-z culling优化，因此一旦在硬件不支持这个特性的显卡上使用此技术，反而会导致效率下降。
Render Pipeline渲染管线概述_Peter_Gao_的博客-CSDN博客
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