随着支持TC10的PHY芯片逐步发布，如Marvell 88Q111x、Microchip LAN8770、NXP SJA1110（Switch芯片，集成PHY）等，TC10（Eth物理层休眠唤醒）+UDPNM（Eth应用层休眠唤醒）的应用将成为各OEM逐步开展的储备技术甚至是量产技术之一。
本文将要介绍的TC10休眠唤醒测试套件（OPEN Sleep/Wake-up Test Suite, draft版本）则是针对物理层（PHY）休眠唤醒功能一致性的测试用例规范；其目的是帮助OEM/Tier1评估其支持TC10休眠唤醒机制的100BASE-T1控制器（ECU）的PHY设计及实现功能是否满足设计规范要求。
本文将参照draft版本测试规范，介绍其中的部分内容，主要包含基本测试结构、被测件要求和测试用例。
基本测试结构
TC10休眠唤醒测试套件给出了测试用例的基本结构，并对每一项进行了介绍及说明，便于开发及测试人员理解测试用例。
测试用例的基本结构如下表：
被测件要求
为了实现TC10休眠唤醒测试，对被测件有一些特定的要求，以便满足某些测试用例；针对不同的测试用例，对被测件的要求不同，详细要求参见下表：
从表中可以看出，TC10休眠唤醒测试文档将测试用例划分为5个测试组，分别用于验证PCS扰流、定时器和管理功能、PHY电源模式状态、PHY控制状态以及I/O接口。对于部分测试项目，如Test 97.2.1并未对DUT有特殊要求；而另一部分测试用例，如Test 97.3.1对DUT的要求是设置loc_sleep_req=TRUE。
从表中对DUT的要求来看，主要分为两类：一类是对DUT的配置，如配置loc_sleep_req=TRUE，或者配置loc_wake_req=TRUE；另一类是对DUT的状态监控，如Observe link_control or inhibit signal。无论是配置，还是状态监控，都需要PHY本身支持，这里的支持不仅需要PHY支持TC10，又需要PHY寄存器支持读写；在此基础上，还需要OEM/Tier1 完成本部分内容的开发。同时测试结构表中未罗列，但需要ECU支持主/从（Master/Slave）配置，这在后续测试用例的测试步骤中有体现。
PS：Test 97.2.5转发唤醒测试用例，要求DUT必须是交换机节点，即包含switch，这点比较好理解，且单一用例要求，并未在上面说明。
测试用例
从被测件要求这一部分，相信大家已经对测试用例有了初步了解，TC10 休眠唤醒测试draft版文档将测试用例分成5个测试组，每个测试组关注的测试点不同，其测试用例数会有差异，接下来将从中选择2个用例来分享。
3.1 Test 97.2.1-Value of sleep_ack_timer
在上一篇公众号《浅谈TC10休眠唤醒规范》中简要介绍了TC10使用的2个定时器参数（sleep_ack_timer和sleep_req_timer），本测试用例则用于验证其中之一的sleep_ack_timer定时器。
首先回顾下sleep_ack_timer定时器，参看图1，该定时器是在ECU PHY进入SLEEP_ACK状态之后开始计时（图中动作②），当定时器超时后将跳转至SLEEP_REQUEST状态（图中动作④）。
PHY电源模式及跳转示意图
（Source：OPEN Sleep/Wake-up Specification V2.1）
sleep_ack_timer定时器测试描述如下：
从潜在问题描述可以了解到，目前该项测试仍存在几个待确认或者说讨论的点，即sleep_ack_timer定时器开始时刻的确定，以及sleep_ack_timer定时器超时状态的确定。这些都需要随着TC10应用的深入，进行逐步讨论；同时也期待在后续public版本中会有具体的描述或者要求。
3.2 Test 97.3.3-SLEEP REQUEST
在PHY满足TC10要求的情况下，PHY芯片会在不同的状态（Normal、SLEEP_ACK、SLEEP_REQUEST、SLEEP_FAIL、SLEEP_SLIENT和SLEEP）之间进行跳转，本用例就是验证其中的SLEEP_REQUEST状态退出机制。
结合图1，SLEEP_REQUEST状态退出之后，会根据ECU的参数状态不同而分别进入两种PHY状态，即SLEEP_FAIL（图中动作⑥）和SLEEP_SLIENT（图中动作⑤）。测试过程也将本测试用例分成两个子case，用以验证不同状态之间的跳转过程。
从潜在问题描述中可以看出，进入SLEEP_FAIL状态的跳转需要DUT满足一定的条件，这些都需要在测试之前对DUT进行要求，同时在测试之前进行确认的内容。
总结
本文仅对TC10休眠唤醒测试进行简要介绍，小编手中draft版本对于测试用例中的部分内容在本规范中未明确介绍，同时在测试用例的潜在问题也可以看出，目前的测试用例是否可执行还存在疑问点，但不妨碍大家对TC10测试的学习与了解。
小编相信随着满足TC10设计规范要求的PHY芯片的量产，以及与UDPNM的联合应用逐步展开，TC10 PHY测试规范也将逐步完善，测试用例将逐步增多完善，测试潜在问题也将逐步讨论确认。那么今天的内容就介绍到这里啦，大家有什么问题可以在下方评论区留言哦~
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