海思hi3536 RTC 数据手册

1.1 RTC 芯片分类
常见的 RTC 芯片,大致可分为三类:
非集成 RTC:只有 RTC 计时电路,不集成晶体、不集成温度补偿电路。这类芯片的计时精度主要取决于外接晶体的精度,而且受温度影响较大。通常在室温环境下,计时精度较高;随着温度升高或降低,计时偏差逐渐增大。
集成晶体的 RTC:将 RTC 计时电路与晶体集成,但没有温度补偿电路。这类芯片在室温环境下,计时精度更高。但仍然无法消除温度的影响。
集成 RTC:将 RTC 计时电路、晶体、温度补偿电路(含温度传感器)都集成在一颗芯片中,出厂时进行调教。这类 RTC 的计时精度可以做到很高,且由于温补电路的作用,受环境温度的影响很小

1.2 RTC 工作模式
内置 RTC 可支持固定分频模式:
与非集成 RTC 相同,内置 RTC 的时钟直接采用外部晶体与振荡电路产生的经过分频后的时钟,工作时分频比固定不变。这种工作模式下,RTC 计时精度取决于外接晶体的频率精度,而且受环境温度影响。在非集成 RTC 这类芯片适用的场景,可以选择内置RTC 替代外置非集成 RTC,节省一些器件成本。
Hi3536 RTC 无内置温度补偿电路,只支持工作在固定分频模式,若 RTC 时钟的频偏较大,可通过调节 RTC 的分频系数来微调 RTC 的时钟频率。对计时精度有严格要求的客户,建议选择集成晶体的 RTC,或者带有温度补偿的 RTC。

2.1 硬件参考电路
RTC 的硬件参考电路如图 2-1 所示,主要涉及晶体和电容的选择。
图2-1 RTC 晶体的硬件参考电路

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