第5章WANおよびアクセスネットワーク技術のソフトテストは、ネットワーク管理者の研究ノート

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第V章、ワイド・エリア・ネットワークとアクセスネットワーク技術

1テストサイト、WAN交換

試験方法[分析]

現在の試験方法の基本的な機能は、テストサイトは、さまざまなを交換することができましたです

ポイント[分析]

1、交換回線交換とパケット交換しました

2、そこにデータグラムパケット交換交換、交流の仮想リンクとセル交換

3、セルのスイッチングおよび仮想リンクは、仮想接続を確立する必要があり、データパケットは、交換する必要はありません。

図4に示すように、仮想リンクスイッチングは、ネットワークは、フレームリレーネットワーク、典型的には、2つ(第二層で動作)と(第3加工層における)X.25ネットワーク

備考[コーチング]

知識のメモリ、我々は理解することができます

2つのテストサイト、一般的なワイドエリアネットワークプロトコル

試験方法[分析]

このテストセンター試験方法は、基本的なHDLCとPPPプロトコルの基本的な概念を検討することです

ポイント[分析]

1、HDLCは、ハイレベルデータリンク制御プロトコルAは、広くビット指向、シスコ独自のプロトコルです。

図2に示すように、フレーム境界として使用されるHDLC 01111110は、ゼロビットスタッフィング法に使用されます

3は、PPPプロトコルはHDLCで開発され、文字指向のプロトコル

図4に示すように、フレームは、PPP LCPパケットやNCPパケットを含んでいます。LCPパケットは、確立、設定、および異なるネットワーク層プロトコルを確立し、構成するデータリンク接続の検証、NCPパケットをテストします

図5に示すように、オプションの認証プロトコルとPPPプロトコルフレーム:3ウェイハンドシェイクを使用して、PAPおよびCHAP、前記安全CHAP、

備考[コーチング]

知識のメモリ、我々は理解することができます

テストサイト3、SONET / SDH

試験方法[分析]

この試験方法は、試験センターは、各速度に対応する基本SONET / SDH信号を検査されます

ポイント[分析]

備考[コーチング]

レートメモリ知識、メインメモリSTS(OC)-1/3とSTM-1とすることができます

4つのテストサイト、アクセスネットワーク技術-xDSL

試験方法[分析]

基本法をテストするには、このテストセンターは、研究のxDSLの基本的な概念であり、

ポイント[分析]

図1は、xDSLのは、周波数分割多重、電話回線を利用したデジタルデータを用いて、デジタル加入者線DSLの種々の総称であります

図2に示すように、チャネルADSL、VDSL、非対称RADSL。

3、HDSLは、SDSLは、対称チャネルであります

備考[コーチング]

Xは、/ V非対称チャネルされ、残りのチャネルは対称的です

5つのテストサイト、アクセスネットワーク技術-hFc

試験方法[分析]

この試験方法は、テストセンター、実質的にHFCは、基本的な概念を調べています

ポイント[分析]

図1は、HFCネットワークは、ハイブリッドファイバ同軸であります

2、モデムを使用して、HFCケーブルモデム

図3に示すように、ユーザの繊維細胞へのオペレータからのアクセスは、同軸ケーブルを使用して、セルからユーザへのアクセスに使用されます

備考[コーチング]

知識のメモリ、我々は理解することができます

6つのテストサイト、アクセスネットワーク技術 - 光アクセスネットワーク

試験方法[分析]

本試験サイトの基本的な試験方法は、光ファイバアクセスネットワークの訪問の基本的な概念であります

ポイント[分析]

光回線終端装置(OLT)、光分配ネットワーク(ODN)、光ネットワークユニット(ONU)組成物によって1、PON(受動光ネットワーク)

図2に示すように、アップリンクTDMAのTDMAを使用して、ダウンリンクをブロードキャストマルチモードの使用、

3、ツリー、スター、バストポロジー、等(典型的なツリー構造)を形成するための柔軟性

図4は、ONUの位置、及び異なるアプリケーションタイプの投資に応じて、FTTH(家庭への繊維)、FTTC、FTTB、FTTZ分割しました。

図5に示すように、アクティブ光ネットワークとの間の差:すべてのODN受動光学部品に使用されるパッシブ光ネットワークの主な特徴(PON)は、アクティブデバイスは、外部ラインおよび機器の故障率を低減すること、電磁干渉や落雷の影響を避けるために、高いシステム信頼性に従事

備考[コーチング]

知識のメモリ、我々は理解することができます

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