1134頂点カバーPATグレード試験


書式#include <iostreamの>
の#include <ベクトル>
std名前空間を使用しました。
メインINT(){
NUM、B、M、K、N INT、NV。
scanf関数( "%d個の%のD"、&N、&M)。
ベクター<整数> V [N]。
(I = 0 int型、iが<M; iが++){ため
のscanf( "%D%D"、&、&B)。
V [A] .push_back(I)。
V [B] .push_back(I)。
}
のscanf( "%d個"、&K);
(I 0 = int型、I <K; iは++){ため
のscanf( "%dの"、およびNV);
INTフラグ= 0。
ベクター<整数>ハッシュ(M、0);
(INT J = 0; J <NV; J ++){ため
のscanf( "%d個"、&NUM)。
(; T <V [NUM] .size(); int型T = 0、T ++)のための
ハッシュ[V [NUM] [T] = 1。
}
(int型J = 0; J <M。
J ++){ IF(ハッシュ[J] == 0){
のprintf( "いいえの\ n");
フラグ= 1。
ブレーク;
}
}
もし(フラグ== 0)のprintf( "はいの\ n");
}
0を返します。
}

------------------------------------

考え方:内部のすべてのエッジの組に含まれる各エッジ点を保存し、各ノードを列挙し、エッジがカバーされていないことが判断されます

ベクター<整数>ハッシュ(M、0);

おすすめ

転載: www.cnblogs.com/zxzmnh/p/11680307.html