テスト対象
試験3 5 1回の再起動ずつスプリットブレイン場合に発生する、シャットダウンするZK、5を凝縮し、その後1,2,3 1,2,3構成を変更します
テストプロセス
1,2,3,4,5 5、リーダー3の調製
。シャットダウン5
1、設定変更1、2、3、再始動
1人のフォロワー、リーダー3は定数である：結果を
2、2、2、3、設定の変更
結果：3 3のフォロワー3は、まだリーダーである
1、2、再起動後に設定の変更のための3、3
2は3フォロワー、新しいリーダーになるためにA。
4,4は、[1,2,3]、クラスタの残りの落下
ノードを作成し、クラスタの可用性を確認するために3を下降、下降、図5に示すように、使用することができます。
結論
3の、5 ZK容積減少、ステップ
1、シャットダウン5
2、二つの非リーダーノード構成の変更は、再起動
3、最後に変更されたノード、リーダーまたはリーダーノード。
4、機械オフライン過剰
第二に、1,2,3,4 4台のマシンは、主にケース3の、1,2,4の構成を変更し、3は、リーダーの位置を変更しません。
第三に、容疑者、クラスタが5ではなく、7、9以上の場合、どのように？
図1に示すように、各修飾は、N-1、1回の再起動（無駄時間）ずつに構成されている
< - [クラスタ・ノードの最小数に新しいクラスタ既存のノード]のことを確保するため、図2に示すように、上記の方法、いくつかの最初のシャットダウン（半分以下）元のクラスタ/ 2 + 1]、その割れが脳を発生しないこと
