どのチップにも、チップに電力を供給するための電源ピンが必要です。電源ピンのサイズとしきい値は、チップが正常に動作するかどうかに非常に重要です。したがって、テスト コードの DC 部分は、テスト時に最も基本的なコードです。チップです。
LabVIEW言語には多くのカプセル化されたAPIがあり、これらのカプセル化されたAPIを使用することで、ニーズを達成するために対応するアクションを実行するようにハードウェアを制御できます。
上の図に示すように、NIパッケージマンガゲで関連する関数パッケージをダウンロードした後、I/Oを測定するLabVIEWブロックダイアグラムパネルでそれを確認できます。赤い丸はDC測定に関連するいくつかの関数パッケージをマークしており、RF測定もありますデジタル テストに関連する一部のパッケージは、テスト コードを編集するときに使用されます。以下にテスト手順の簡単な説明を示します。
ステップ 1: デバイスの初期化。関連機器を設定するには、黒色のリード エンドでハードウェア デバイスを設定してデバイスのセッションを開くだけです。
ステップ 2: デバイスのテストに関連する構成を作成します。測定モード（シングルポイント、シーケンス）、測定機能（電圧、電流）、入力電圧／電流値、電圧／電流制限／電流値、測定遅延時間など。
ソースには、電圧、電流、パルスなどの DC 関連のテスト機能があり、また、シングルポイント/シーケンス モードや電圧/電流機能の設定も可能です。
ステップ 3: テストを開始します。DCPowerの初期化、テストソース完了イベントの待機/トリガー方法、測定の開始、テスト結果の適合性の確認などが含まれます。
Controlで測定を初期化または終了し、トリガー/イベント機能パッケージでソースイベントがイベントまたはトリガーモードを完了するのを待ち、Measureで測定を開始し、Queryでテスト結果の適合性を確認できます。
トリガーモードがハードウェアトリガーかソフトウェアトリガーか、また測定時のアラチュアタイムとセンスモードはすべて実際のシナリオに応じて設定する必要があるため、ここでは詳細は説明しません。
ステップ 4: 機器セッションをリセットまたは閉じます。ここで良い習慣を身に付ける必要があります。つまり、使用後にインストゥルメントを閉じる必要があります。そうしないと、次回テストにコードを使用するときに、前のセッションが閉じられず、このインストゥルメント用のセッションを作成する必要があります。競合が発生し、エラーが報告されます。
以上がテスト時の 4 つのステップですが、以下に完全なプログラムを紹介します。
上記のプログラムに示すように、これは完全な Force 電圧および電流測定プログラムであり、シリアル番号に従って各機能が紹介されています。
1. デバイスセッションを初期化します。
2. ソースモードを単一点測定に設定します。
3. 出力機能を電圧モードに設定します。DC 電流に設定した場合は、電圧レベルと電流制限ではなく、電流レベルと電圧制限を設定する必要があります。
4. 電圧値を設定します (電圧モードであるため、この属性は電圧制限値ではなく指定された電圧値である必要があります)。
5. 電流制限値を構成します (電圧モードであるため、電圧を指定すると、この属性は電流値を設定するのではなく電流制限にする必要があります)。
6. 電圧範囲を設定します。
7. 電流制限値の範囲を設定します。
8. ソース遅延を設定します。つまり、遅延は測定を開始するまでにかかる時間です。ソースの電源がオンになってからプリセットレベルに達するまでには常に一定の遅延があり、すぐには上がらないため、測定を開始するまでに時間がかかります。 ;
9. デバイスを初期化して、以前に設定した電圧波形を生成して収集します。
10. 出力が安定するまで待ちます。
11. 電圧と電流を測定します。
12. 出力が準拠しているかどうかを判断し、インジケーターを更新します。
13. リセットして出力を無効にします。
14. デバイスセッションを閉じます。
フロント パネルでは、PXISlot11 ハードウェアのチャネル 0 を使用して 6V の電圧を出力し、100ms 後に測定を開始していることがわかります。図の右側からわかるように、測定された電圧値は 6V であり、電流は100uAです。これで、Force の電圧と電流の測定プロセスが完了しました。
