加速技術 ST2500 に基づく TPS73625 チップテスト (4)

4、TPS73625チップの入出力圧力差テスト

1. 試験原理

レギュレータの入力電圧と出力電圧の差がレギュレータのドロップアウト電圧です。レギュレータは、一定の負荷電流下において、最小入力電圧で正常な出力電圧を維持します。このときの入力電圧と出力電圧の差を最小ドロップアウト電圧と呼びます。レギュレータの最小ドロップアウト電圧は、負荷電流が異なると異なります。出力電圧の安定性を確保するために、実際のアプリケーションでは、負荷電流の大きさに応じて正常な出力電圧を確保するために必要な最小の電圧降下を判断する必要があります。電圧レギュレータの電圧ドロップアウトはその動作電圧範囲を決定し、低ドロップアウト電圧レギュレータは、より低い入力電圧の場合に適用されるより低い動作電圧を受け入れることができ、電力損失を低減し、効率を向上させます。したがって、出力電圧が安定している条件下では、電圧降下が低いほどリニアレギュレータの性能が高くなります。たとえば、定格出力が 5.0V、ドロップアウト電圧が 500mV の低ドロップアウトリニアレギュレータは、入力電圧が 5.5V 以上である限り、出力電圧を 5.0V に安定させることができます。
ここで説明しなければならないのは、チップメーカーが異なれば、このパラメーターをテストするために異なるテスト方法が使用されるということです。同じメーカーが製造した電圧レギュレータチップのシリーズが異なる場合でも、このパラメータのテスト方法は異なります。

2. 試験概要図

3. テスト手順

(1) K4 を閉じ、OUT ピンを 6.25Ω 負荷に接続します。

(2) PPMU リソースを使用して EN ピンに 2V を印加します

(3) DPS リソースを使用して 2.4V 電圧を IN ピンに印加します

(4) BPMU の「FNMV」動作モードを使用して、OUT ピンの電圧 stMeasValue を測定します。

(5) 入出力圧力差を計算します。

4. テストコード

USER_CODE void VDO_TEST() {
	TEST_BEGIN

	// TODO Edit your code here
	//定义变量存储测量到的电压值和计算后的压差值
	vector<ST_MEAS_RESULT> stMeasValue;
	
	//闭合K4选择6.25Ω负载
	cbit.Signal("K4").SetOn();
	sys.DelayUs(8000);
	
	//使用PPMU资源向EN引脚施加2V电压
	ppmu.Signal("EN").SetMode("FVMI").VoltForce(2.0).CurrRange(40e-3).Execute();
	
	//使用DPS资源向IN引脚施加2.4V电压
	dps.Signal("IND").SetMode("FVMI").VoltForce(2.4).CurrRange(40e-3).CurrClamp(0.5, -0.5).Execute();
	
	//使用BPMU资源测量OUT引脚的输出电压值
	bpmu.Signal("OUTB").SetMode("FNMV").Execute();
	sys.DelayUs(15000);
	bpmu.Signal("OUTB").Measure(stMeasValue);
	
	//计算输出压差
	stMeasValue[0].dbValue = 2.4 - stMeasValue[0].dbValue;

	binObj.CheckResultAndBin(0, stMeasValue, 1);

	//复位操作
	dps.Signal("IND").SetMode("FVMI").VoltForce(0.0).Execute();
	dps.Signal("IND").SetMode("FNMV").Execute();

	ppmu.Signal("EN").SetMode("FVMI").VoltForce(0.0).Execute();
	ppmu.Signal("EN").SetMode("FNMV").Execute();
	sys.DelayUs(10000);

	//断开K4
	cbit.Signal("K4").SetOff();
	sys.DelayUs(8000);

	TEST_ERROR
	binObj.HandlerException(0);
	TEST_END
}