【数字设计】博通集成_2023届_笔试面试题目分享

【数字设计】博通集成_2023届_笔试面试题目分享

一、投稿方式

因为作者不是今年的应届生,因此本专栏(数字IC笔试面试专栏)的建设需要粉丝朋友们共同进行,现开放邮箱笔试面经投稿地址如下[email protected],欢迎读者朋友们进行投稿,参与的朋友有机会获得数字IC相关纸质书籍,先到先得哦!

二、一面

1.介绍实习所做的工作
2.项目相关的内容
3.对FPGA有什么了解
4.Cpu怎么从单周期变成多周期的
5.多周期怎么划分

单周期、多周期和流水线处理器

6.有接触过验证吗
6.AHB有什么信号

AHB总线协议

三、二面

1.DFT是做什么事情的

DFT是Design For Test的缩写。 是指在芯片设计过程中引入测试逻辑,并利用这部分测试逻辑完成测试向量的自动生产,从而达到快速有效的芯片测试的目的。

2.扫描链是什么

即将标准的DFF转换为SFF(Scan Flip Flop(,目前MUX-DFF是最常用的扫描结构。

3.同步异步FIFO的差别
4.格雷码的目的

FIFO相关可以参考这篇文章:数字IC手撕代码同步FIFO

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转载自blog.csdn.net/weixin_43698385/article/details/127334575